杭州國磊SIR測試系統(tǒng)供應(yīng) 杭州國磊半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)

面對AI眼鏡出貨量激增（IDC預(yù)計2025年全球達1280萬副），量產(chǎn)測試效率成為關(guān)鍵瓶頸。國磊GT600測試機支持**512Sites并行測試，**提升測試吞吐量，降低單顆SoC測試成本，滿足高量產(chǎn)型號的產(chǎn)能需求。其支持Access、Excel、CSV、STDF等標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式導(dǎo)出，便于測試數(shù)據(jù)與MES系統(tǒng)對接，實現(xiàn)良率追蹤與SPC分析。GPIB/TTL接口可同步探針臺與分選機，構(gòu)建全自動CP/FT測試流程，提升測試一致性與可靠性。對于集成了AI加速單元的MCU類SoC，國磊GT600測試機可同時驗證其神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)推理功能與低功耗行為，確保端側(cè)AI性能與續(xù)航的雙重達標(biāo)。GM8800是進行絕緣劣化試驗的理想選擇。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)供應(yīng)

測試數(shù)據(jù)閉環(huán)助力量子芯片協(xié)同優(yōu)化，國磊（Guolei）GT600支持STDF、CSV等格式輸出，并具備數(shù)據(jù)分析與圖形化顯示功能。這些測試數(shù)據(jù)可與量子芯片的設(shè)計仿真平臺聯(lián)動，形成“測試—反饋—優(yōu)化”閉環(huán)。例如，若某批次控制芯片的相位噪聲超標(biāo)，可反向指導(dǎo)量子比特布局或濾波器設(shè)計，提升整體系統(tǒng)相干時間。國產(chǎn)化替代保障量子科技供應(yīng)鏈** 量子技術(shù)屬于**戰(zhàn)略科技力量，其**裝備的自主可控至關(guān)重要。國磊（Guolei）作為國產(chǎn)**ATE廠商，其GT600系統(tǒng)已實現(xiàn)對國際同類設(shè)備（如Advantest、Teradyne）部分功能的替代。杭州絕緣電阻測試系統(tǒng)國磊GT600雖不是專為Chiplet設(shè)計，但其“模塊化、高性能多物理場集成”的架構(gòu)具備服務(wù)Chiplet測試的能力。

低功耗SoC在先進工藝下表現(xiàn)出更復(fù)雜的漏電行為、更敏感的電源完整性需求、更精細的時序窗口，以及混合信號模塊（如PLL、ADC、LDO）的高精度驗證要求。傳統(tǒng)測試設(shè)備往往難以滿足這些需求，尤其是在靜態(tài)電流（IDDQ）、電壓裕量測試、動態(tài)功耗曲線、喚醒延遲、電源序列控制等關(guān)鍵參數(shù)的測量上。此時，國磊GT600測試機的價值凸顯。GT600支持每通道PPMU（ParametricPinMonitorUnit），可實現(xiàn)nA級靜態(tài)電流測量，**捕捉先進工藝下SoC的漏電異常，確保低功耗模式（Sleep/DeepSleep）的有效性。其可選配的高精度浮動SMU板卡支持-2.5V~7V寬電壓范圍與1A驅(qū)動能力，可用于DVFS電壓切換測試與電源域上電時序驗證。

國產(chǎn)替代的“自主基石” 在美國對華**半導(dǎo)體設(shè)備禁運的背景下，國產(chǎn)測試機成為“卡脖子”環(huán)節(jié)的突圍重點。杭州國磊GT600作為國產(chǎn)**SoC測試平臺，支持C++編程、Visual Studio開發(fā)環(huán)境，軟件系統(tǒng)開放可控，避免依賴國外“黑盒子”軟件。其硬件架構(gòu)靈活，16個通用插槽可適配國產(chǎn)探針臺、分選機，實現(xiàn)全鏈路本土化集成。交期短、響應(yīng)快、可定制，滿足華為、比亞迪等企業(yè)對供應(yīng)鏈**與數(shù)據(jù)**的嚴(yán)苛要求。杭州國磊GT600的出現(xiàn)，標(biāo)志著中國在**測試設(shè)備領(lǐng)域從“跟跑”向“并跑”邁進。它不僅是工具，更是中國半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈自主可控戰(zhàn)略的“**支柱”，為國產(chǎn)芯片的持續(xù)創(chuàng)新提供堅實底座。國磊GT600支持多Site并行測試，提升電源管理芯片、運放等高量產(chǎn)型號的測試效率與產(chǎn)能。

支持復(fù)雜測試向量導(dǎo)入，加速算法驗證閉環(huán) 智能駕駛芯片的**價值在于其內(nèi)置的AI推理引擎能否準(zhǔn)確執(zhí)行感知與決策算法。杭州國磊GT600支持從其他測試平臺導(dǎo)入測試程序與向量，并兼容STDF、CSV、Excel等多種數(shù)據(jù)格式，便于將仿真環(huán)境中的算法測試用例直接轉(zhuǎn)化為ATE（自動測試設(shè)備）可執(zhí)行的測試向量。例如，可在GT600上加載真實道路場景下的圖像識別或目標(biāo)檢測激勵序列，驗證NPU在極限負載下的響應(yīng)正確性與時延表現(xiàn)，從而構(gòu)建“算法—芯片—測試”一體化驗證閉環(huán)。國磊GT600向量存儲深度32/64/128M，支持長Pattern測試序列，適用于帶數(shù)字校準(zhǔn)功能的智能傳感器芯片。杭州絕緣電阻測試系統(tǒng)

國磊GT600SoC測試機的10ps分辨率TMU可用于驗證先進節(jié)點下更嚴(yán)格的時序窗口，如快速喚醒與電源切換延遲。杭州國磊SIR測試系統(tǒng)供應(yīng)

    杭州國磊（Guolei）SoC測試系統(tǒng)（以GT600為**）雖主要面向高性能系統(tǒng)級芯片（SoC）的數(shù)字與混合信號測試，但憑借其高精度模擬測量、靈活電源管理、高速數(shù)字接口驗證及并行測試能力，能夠有效支持多種MEMS（微機電系統(tǒng)）。以下是其具體支持的典型MEMS應(yīng)用場景：1.慣性測量單元（IMU）IMU廣泛應(yīng)用于智能手機、無人機、AR/VR設(shè)備及智能駕駛系統(tǒng)，通常集成3軸加速度計+3軸陀螺儀（6DoF）甚至磁力計（9DoF）。其配套ASIC需完成微弱電容信號調(diào)理、Σ-ΔADC轉(zhuǎn)換、溫度補償和SPI/I?C通信。杭州國磊（Guolei）支持點：利用24位高精度Digitizer板卡捕獲nV~μV級模擬輸出；通過TMU（時間測量單元）驗證陀螺儀響應(yīng)延遲與帶寬；使用400MHz數(shù)字通道測試高速SPI接口時序（眼圖、抖動）；PPMU每引腳**供電，精確測量各工作模式功耗。 杭州國磊SIR測試系統(tǒng)供應(yīng)